热门产品 收藏本页 | 设为主页 | 随便看看
普通会员

北京特博万德科技有限公司

硅片;砷化镓;石英片;锗片;热氧硅片;外延片;SOI硅;纳米粉末;微米粉末

您当前的位置:首页 » 供应产品 » 折射率测量仪-美国进口
折射率测量仪-美国进口
折射率测量仪-美国进口图片
折射率测量仪-美国进口图片0折射率测量仪-美国进口图片1折射率测量仪-美国进口图片2
点击图片查看大图
产 品: 折射率测量仪-美国进口 
单 价: 面议 
最小起订量:  
供货总量:
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
更新日期: 2013-03-26  有效期至:长期有效
  询价

«上一个产品    下一个产品»
折射率测量仪-美国进口详细说明

北京特博万德科技有限公司代理销售美国超高精度膜厚仪,精度0.1nm.

       

可测量薄膜厚度,折射率,消光系数。

 

可测量尺寸20mm~300mm.

询价单
产品分类
  • 暂无分类
联系方式
  • 联系人:李先生(先生)
  • 职位:销售部(经理)
  • 电话:010-87700693
  • 邮件:hunter.lhm@gmail.com
  • 手机:13810504825
  • 传真:010-87700693
  • 地址:北京市朝阳区建国东路
  • 腾讯QQ:
  • MSN:
站内搜索
 
友情链接